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產(chǎn)品介紹

薄膜熱導(dǎo)率測試系統(tǒng) TCT 是采用 3ω測試方法，利用微/納米薄膜材料導(dǎo)熱引起加熱器電信號的變化來檢測其熱導(dǎo)率。主要應(yīng)用范圍為微/納米薄膜材料的熱導(dǎo)率測量，可廣泛應(yīng)用于輔助各種功能薄膜材料的研究與開發(fā)，其涵蓋范圍包括集成電路散熱材料、熱阻材料、熱電材料、信息存儲與光電材料等。

產(chǎn)品特點

采用3ω測試方法，利用微/納米薄膜材料導(dǎo)熱引起加熱器電信號的變化來檢測其熱導(dǎo)率；

不直接測量溫度變化，而是通過測量材料在導(dǎo)熱過程中溫度的變化轉(zhuǎn)換為電信號的變化，來實現(xiàn)微/納米薄膜材料的熱導(dǎo)率測試；

采用交流電加熱方式，同時選擇并優(yōu)化設(shè)計加熱電極的形狀與尺寸，可確保加熱均勻性及測試應(yīng)用的廣泛性；

待測薄膜樣品材料尺寸極小，所以能有效減小黑體輻射引起的測量誤差；

高精度數(shù)字源表并結(jié)合鎖相放大技術(shù)，保證測量結(jié)果的準(zhǔn)確性；

優(yōu)化的加熱電極的形狀與尺寸設(shè)計，可保證加熱均勻性及測試應(yīng)用的穩(wěn)定性